電(dian)子(zi)元器件(jian)的外觀缺(que)陷檢(jian)(jian)測(ce)是一(yi)個(ge)非常關(guan)鍵(jian)的環節。由于(yu)此類(lei)產品一(yi)般(ban)體(ti)(ti)積較小(xiao)(xiao)，質量(liang)要(yao)求較高，很難(nan)通過人工(gong)批量(liang)檢(jian)(jian)測(ce)。外觀缺(que)陷的自(zi)動檢(jian)(jian)測(ce)需要(yao)使用電(dian)子(zi)元件(jian)外觀檢(jian)(jian)測(ce)設備(bei)。. 由于(yu)體(ti)(ti)積小(xiao)(xiao)、精度高，芯片的外觀檢(jian)(jian)測(ce)一(yi)直是行業痛點(dian)，仍(reng)需大量(liang)人工(gong)檢(jian)(jian)測(ce)。針對以上問題，國辰機器人基于(yu)深(shen)度學習(xi)的光隔(ge)離(li)組(zu)件(jian)外觀檢(jian)(jian)測(ce)解決方案。

【檢測的問題】

需要檢(jian)測的缺(que)陷包括劃痕、臟污(wu)、破損、鼓包、漏液、露(lu)白、凸(tu)底、尺寸異常等

【檢測原理】

捕獲的(de)(de)目標(biao)由CCD工業相機(ji)轉換成圖(tu)像信(xin)(xin)號，送入(ru)專(zhuan)用的(de)(de)圖(tu)像處(chu)理(li)系統，根據(ju)像素(su)分(fen)布和亮度(du)信(xin)(xin)息轉換成數字(zi)信(xin)(xin)號;圖(tu)像系統對這些信(xin)(xin)號進行各種操(cao)作(zuo)，提(ti)取目標(biao)的(de)(de)特征，然后根據(ju)判別結果控制現(xian)場設備操(cao)作(zuo)。該設備實現(xian)了元器(qi)件尺寸(cun)測(ce)(ce)量(liang)和外觀缺陷檢測(ce)(ce)、自(zi)(zi)(zi)動上料(liao)(liao)、自(zi)(zi)(zi)動檢測(ce)(ce)、自(zi)(zi)(zi)動分(fen)揀、自(zi)(zi)(zi)動卸(xie)料(liao)(liao)、不(bu)良品自(zi)(zi)(zi)動剔除(chu)的(de)(de)自(zi)(zi)(zi)動化流程(cheng)。

機(ji)器視覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測應用領域領域廣泛，如連接器外(wai)(wai)觀(guan)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，電容(rong)器外(wai)(wai)觀(guan)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，電感器外(wai)(wai)觀(guan)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，電阻器外(wai)(wai)觀(guan)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，PIN針外(wai)(wai)觀(guan)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，變壓(ya)器外(wai)(wai)觀(guan)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，晶圓尺寸及(ji)外(wai)(wai)觀(guan)缺(que)陷檢(jian)(jian)(jian)(jian)測等(deng)。