隨(sui)著(zhu)現(xian)代工業(ye)的(de)(de)發展，鑄件(jian)的(de)(de)質量保證(zheng)尤為重(zhong)要。對于(yu)表面有缺(que)陷的(de)(de)鑄件(jian)，人工檢(jian)測(ce)(ce)方法效率低下(xia)，不適合長期運行，容易(yi)造(zao)成誤檢(jian)。傳(chuan)統的(de)(de)機器視覺檢(jian)測(ce)(ce)方法和深度學習(xi)檢(jian)測(ce)(ce)方法是現(xian)在(zai)比較流行的(de)(de)缺(que)陷檢(jian)測(ce)(ce)方法。那(nei)么接下(xia)來國(guo)辰機器人就來說說鑄件(jian)缺(que)陷檢(jian)測(ce)(ce)。
鑄(zhu)(zhu)件(jian)是用各種鑄(zhu)(zhu)造方法(fa)獲得的(de)金(jin)(jin)屬(shu)成型(xing)物件(jian)，即把冶煉(lian)好的(de)液態金(jin)(jin)屬(shu)，用澆(jiao)注、壓射、吸入或其它(ta)澆(jiao)鑄(zhu)(zhu)方法(fa)注入預先準備(bei)好的(de)鑄(zhu)(zhu)型(xing)中，冷卻(que)后經打磨等后續加(jia)工手段后，所得到的(de)具有(you)一定形狀，尺寸和(he)性能(neng)的(de)物件(jian)。
【鑄件缺陷】
砂(sha)型鑄造(zao)鑄件缺陷有(you)：冷隔、澆不足、氣孔(kong)、粘砂(sha)、夾砂(sha)、砂(sha)眼(yan)、脹(zhang)砂(sha)等。
1)冷隔和澆不足
液態金(jin)屬充(chong)型能力不足，或充(chong)型條件(jian)較差(cha)，在型腔被填滿之前(qian)，金(jin)屬液便停止(zhi)流動，將使鑄件(jian)產生澆不足或冷隔缺陷。
2)氣孔
氣(qi)體在金屬液結殼之(zhi)前未及時逸(yi)出，在鑄件內生成的(de)孔洞類(lei)缺陷。
3)粘砂
鑄件表面上粘(zhan)(zhan)附有一層難以(yi)清(qing)除的砂(sha)粒稱(cheng)為粘(zhan)(zhan)砂(sha)。
4)夾砂
在(zai)鑄件表面形成的(de)溝槽和疤痕(hen)缺陷，在(zai)用(yong)濕(shi)型鑄造厚大平(ping)板(ban)類鑄件時極易產生。
5)砂眼
在鑄件內部或表面充塞著型砂的(de)孔洞類缺(que)陷(xian)。
6)脹砂
澆注時在金屬液的壓(ya)力作(zuo)用下(xia)，鑄(zhu)型(xing)型(xing)壁移動(dong)，鑄(zhu)件局部(bu)脹大(da)形(xing)成的缺陷。
【鑄件質量與檢測】
鑄件質(zhi)(zhi)量(liang)主要(yao)包括外觀質(zhi)(zhi)量(liang)、內(nei)在質(zhi)(zhi)量(liang)和(he)使用(yong)質(zhi)(zhi)量(liang)。
1)外(wai)觀質量指(zhi)鑄件表(biao)面(mian)粗糙度、表(biao)面(mian)缺(que)陷、尺寸偏(pian)(pian)差(cha)、形狀偏(pian)(pian)差(cha)、重量偏(pian)(pian)差(cha);
2)內在質量主要指鑄件的(de)化學成(cheng)分、物理性能、機械(xie)性能、金相(xiang)組織以及存(cun)在于鑄件內部的(de)孔洞(dong)、裂紋、夾雜、偏析等情況;
3)使(shi)用質量(liang)指鑄件(jian)在不(bu)同條件(jian)下的工作耐(nai)久能(neng)力，包括耐(nai)磨、耐(nai)腐(fu)蝕、耐(nai)激(ji)冷激(ji)熱、疲勞、吸震等性能(neng)以(yi)及被切削性、可焊性等工藝(yi)性能(neng)。
鑄(zhu)件的檢(jian)(jian)測(ce)(ce)主要(yao)包括尺寸檢(jian)(jian)查(cha)、外觀和(he)表面的目視檢(jian)(jian)查(cha)、化學成分分析和(he)力(li)學性能(neng)試驗，對于要(yao)求比(bi)較重要(yao)或鑄(zhu)造工(gong)藝上容易產生問題的鑄(zhu)件，還需要(yao)進行(xing)無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)工(gong)作(zuo)，可用于球墨鑄(zhu)鐵件質量檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)技術(shu)包括液體滲透檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、磁粉檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、渦流(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、射線檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、超聲檢(jian)(jian)測(ce)(ce)及振動檢(jian)(jian)測(ce)(ce)等。