現在社會(hui)上有(you)著各式(shi)各樣的(de)檢測(ce)(ce)機構，因(yin)為(wei)普(pu)遍出現的(de)質量(liang)問(wen)題，讓人(ren)們不得不小(xiao)心。那么材料無(wu)損(sun)檢測(ce)(ce)的(de)方(fang)法有(you)哪些?表面缺陷檢測(ce)(ce)方(fang)法又(you)有(you)哪些?針對這兩個問(wen)題，小(xiao)編給大家提(ti)出以下(xia)的(de)解決方(fang)案

材料無損檢測的方法有哪些

1、RT 射線檢(jian)(jian)測(ce) ：主要(yao)檢(jian)(jian)測(ce)材(cai)料(liao)或工(gong)件內部缺陷。

2、UT超聲檢(jian)(jian)測 ：主要檢(jian)(jian)測材料或(huo)工(gong)件內(nei)部缺陷。

3、MT磁粉檢(jian)測 ：主要檢(jian)測材料或工件表面、近表面缺陷(鐵磁性材料)。

4、PT滲透檢(jian)測 ：主要檢(jian)測材料(liao)或工件表面開(kai)口缺陷(非多孔(kong)型材料(liao))。

5、ET渦流檢(jian)測 ：主要(yao)檢(jian)測材料(liao)或工件表面(mian)、近表面(mian)缺(que)陷(導電材料(liao))。

表面缺陷檢測方法有哪些

1、液體滲透檢測

液體(ti)滲透(tou)檢測用(yong)來檢查鑄件表(biao)面(mian)上(shang)的各種(zhong)開(kai)口缺(que)陷(xian)(xian)，如表(biao)面(mian)裂紋、表(biao)面(mian)針孔等肉(rou)眼(yan)難以發現(xian)的缺(que)陷(xian)(xian)。常(chang)用(yong)的滲透(tou)檢測是著(zhu)色(se)檢測，它(ta)是將具有(you)高(gao)滲透(tou)能力的有(you)色(se)(一般為紅色(se))液體(ti)(滲透(tou)劑)浸濕或噴灑在鑄件表(biao)面(mian)上(shang)，滲透(tou)劑滲入到開(kai)口缺(que)陷(xian)(xian)里面(mian)。

快速擦去(qu)表面(mian)滲透液層，再將易(yi)干(gan)的顯示劑(ji)(ji)(也叫顯像劑(ji)(ji))噴(pen)灑到鑄(zhu)件表面(mian)上，待(dai)將殘留在開口缺(que)(que)陷(xian)中的滲透劑(ji)(ji)吸出(chu)來后，顯示劑(ji)(ji)就被(bei)染(ran)色，從而可(ke)以反映出(chu)缺(que)(que)陷(xian)的形狀、大小和分布情(qing)況。

需要指(zhi)出的是，滲透檢測的精確度隨(sui)被檢材料表面粗糙度增(zeng)加而降低，即表面越(yue)光(guang)檢測效果越(yue)好，磨(mo)床磨(mo)光(guang)的表面檢測精確度最高，甚(shen)至可以(yi)檢測出晶間(jian)裂(lie)紋。

除著(zhu)色(se)檢測(ce)(ce)外(wai)，熒光(guang)滲(shen)透檢測(ce)(ce)也是常用的(de)液體滲(shen)透檢測(ce)(ce)方法，它需(xu)要配(pei)置紫外(wai)光(guang)燈進(jin)行(xing)照射觀(guan)察，檢測(ce)(ce)靈敏度(du)比(bi)著(zhu)色(se)檢測(ce)(ce)高。

2、渦流檢測

渦(wo)流檢(jian)測適用(yong)于(yu)檢(jian)查表面(mian)以下(xia)一般不大于(yu)6～7MM深(shen)的缺陷。渦(wo)流檢(jian)測分(fen)放(fang)置式(shi)線圈法和穿過式(shi)線圈法2種。當試件被(bei)放(fang)在通(tong)有交(jiao)變電流的線圈附近時。

進(jin)入試件(jian)的(de)交(jiao)變(bian)(bian)磁(ci)場(chang)可在(zai)試件(jian)中感生出方向與激勵磁(ci)場(chang)相垂直的(de)、呈渦(wo)流(liu)(liu)狀流(liu)(liu)動的(de)電流(liu)(liu)(渦(wo)流(liu)(liu))，渦(wo)流(liu)(liu)會產生一與激勵磁(ci)場(chang)方向相反的(de)磁(ci)場(chang)，使線(xian)圈中的(de)原磁(ci)場(chang)有部分減少(shao)，從而(er)引起(qi)線(xian)圈阻抗的(de)變(bian)(bian)化。

如(ru)果鑄件(jian)表(biao)面(mian)存(cun)在(zai)缺(que)(que)(que)陷(xian)，則渦流的電特(te)征會發生畸變，從而檢測(ce)出缺(que)(que)(que)陷(xian)的存(cun)在(zai)，渦流檢測(ce)的主要缺(que)(que)(que)點是不能直觀顯示探測(ce)出的缺(que)(que)(que)陷(xian)大小和(he)形(xing)狀，一般只能確定出缺(que)(que)(que)陷(xian)所在(zai)表(biao)面(mian)位置和(he)深(shen)度(du)。

另外它對工件表面上小(xiao)的(de)開口缺陷的(de)檢(jian)出靈敏度不(bu)如滲透檢(jian)測。

3、磁粉檢測

磁粉(fen)檢測適合于檢測表(biao)面缺陷及表(biao)面以(yi)下數毫米深(shen)的缺陷，它需要直(zhi)流(或(huo)交流)磁化設備(bei)和磁粉(fen)(或(huo)磁懸浮液(ye))才(cai)能進行(xing)檢測操作。

磁化(hua)設備用(yong)(yong)來在(zai)鑄(zhu)件(jian)內(nei)外表面產(chan)生(sheng)磁場(chang)(chang)，磁粉(fen)或磁懸浮(fu)液用(yong)(yong)來顯示缺陷。當在(zai)鑄(zhu)件(jian)一定范圍(wei)內(nei)產(chan)生(sheng)磁場(chang)(chang)時，磁化(hua)區域(yu)內(nei)的缺陷就會產(chan)生(sheng)漏(lou)磁場(chang)(chang)。

當(dang)撒上磁粉(fen)或懸浮液時(shi)，磁粉(fen)被吸住，這樣就可以顯(xian)示(shi)出缺(que)陷(xian)來。

這樣顯(xian)(xian)示出(chu)的(de)缺(que)陷(xian)基本上都是橫切磁(ci)力線(xian)的(de)缺(que)陷(xian)，對于平行于磁(ci)力線(xian)的(de)長條(tiao)型缺(que)陷(xian)則(ze)顯(xian)(xian)示不出(chu)來，為此，操作時需要不斷改(gai)變磁(ci)化方向，以保證能夠檢查出(chu)未知方向的(de)各個缺(que)陷(xian)。